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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2602B源表

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2024-08-17

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2602B源表專業(yè)為中國(guó)區(qū)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù)

產(chǎn)品特性Product characteristics

    專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，由堅(jiān)JET和融YOO兩位技術(shù)工程師于2011年共同創(chuàng)立，志在破舊立新！*測(cè)試測(cè)量行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務(wù)銷售，不專業(yè)做售前測(cè)試方案，不專業(yè)做售后使用培訓(xùn)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上儀器行業(yè)工作經(jīng)驗(yàn)，專業(yè)為中國(guó)區(qū)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù)，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY源表2600B系列研究領(lǐng)域：
各種器件的I-V功能測(cè)試和特征分析，包括：
 離散和無(wú)源元件 
–兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅(qū)動(dòng)器頭、金屬氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻
–三抽頭器件——小信號(hào)雙極結(jié)型晶體管（BJT）、場(chǎng)效應(yīng)晶體管（FET）等等 
 簡(jiǎn)單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動(dòng)器、開關(guān)、傳感器
 集成器件——小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI）
–模擬IC 
–射頻集成電路（RFIC）
–集成電路（ASIC）
–片上系統(tǒng)（SoC）器件
 光電器件，例如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管、高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發(fā)射激光器（VCSEL）、顯示器
 圓片級(jí)可靠性
- NBTI、TDDB、HCI、電遷移
 太陽(yáng)能電池
 電池
暫態(tài)抑制器件
IC、RFIC、MMIC
激光二極管、激光二極管模塊、LED、光電檢測(cè)器
電路保護(hù)器件:
TVS、MOV、熔絲
安全氣囊
連接器、開關(guān)、繼電器
碳納米管
半導(dǎo)體納米線
碳納米管 FET
納米傳感器和陣列
單電子晶體管
分子電子
有機(jī)電子
基本運(yùn)放電路
二極管和電路
晶體管電路

測(cè)試：
漏流
低壓、電阻
LIV
IDDQ
I-V特征分析
隔離與軌跡電阻
溫度系數(shù)
正向電壓、反向擊穿、漏電流
直流參數(shù)測(cè)試
直流電源
HIPOT
介質(zhì)耐受性

雙極結(jié)型晶體管設(shè)計(jì)
結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)
金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)
太陽(yáng)能電池和 LED 設(shè)計(jì)
高電子遷移率晶體管設(shè)計(jì)
復(fù)合半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)

分析納米材料和實(shí)驗(yàn)器件
碳納米管的電測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
測(cè)量碳納米管電氣特性
提高納米電子和分子電子器件的低電流測(cè)量
在低功率和低壓應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確、可靠的電阻測(cè)量
納米級(jí)器件和材料的電氣測(cè)量
提高超高電阻和電阻率測(cè)量的可重復(fù)性
一種微分電導(dǎo)的改進(jìn)測(cè)量方法
納米技術(shù)準(zhǔn)確電氣測(cè)量的技術(shù)
納米級(jí)材料的電氣測(cè)量
降低外部誤差源影響的儀器技術(shù)
迎接65nm節(jié)點(diǎn)的測(cè)量挑戰(zhàn)
測(cè)量半導(dǎo)體材料的高電阻率和霍爾電壓
用微微微安量程測(cè)量電流
柵極電介質(zhì)電容電壓特性分析
評(píng)估氧化層的可靠性

的半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和試驗(yàn)低電阻、低功耗半導(dǎo)體器
輸出極低電流和測(cè)量極低電壓分析現(xiàn)代材料、半導(dǎo)體和納米電子元件的電阻
低阻測(cè)量(低至10nΩ)分析導(dǎo)通電阻參數(shù)、互連和低功率半導(dǎo)體。
用于*進(jìn)CMOS技術(shù)的脈沖可靠性測(cè)試
高K柵極電介質(zhì)電荷俘獲行為的脈沖特性分析
用6線歐姆測(cè)量技術(shù)進(jìn)行更高準(zhǔn)確度的電阻測(cè)量
配置分立電阻器驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng)
電信激光二極管模塊的高吞吐率直流生產(chǎn)測(cè)試
多臺(tái)數(shù)字源表的觸發(fā)器同步
高亮度、可見光LED的生產(chǎn)測(cè)試
OLED顯示器的直流生產(chǎn)測(cè)試
在運(yùn)行中第5次測(cè)量用于偏置溫度不穩(wěn)定特性分析
數(shù)字源表的緩沖器以及如何用這兩個(gè)緩沖器獲取多達(dá)5000點(diǎn)數(shù)據(jù)
連接器的生產(chǎn)測(cè)試方案
射頻功率晶體管的直流電氣特性分析

美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY源表2602B ，SMU，雙通道（100fA、40V、3A直流/10A脈沖）
源/測(cè)量功能    - 雙通道型號(hào)支持80W輸出功率（40W/通道）
    - 4象限源/測(cè)量具有6位半分辨率
    - 電流zui大值/zui小值：3A直流、10A脈沖/100fA
    - 電壓zui大值/zui小值：40V/100nV
一般特性    - 內(nèi)建“即插即用”基于Java的I-V特性分析和測(cè)試軟件
    - TSP®（測(cè)試腳本處理）技術(shù)在測(cè)量?jī)x器內(nèi)嵌入了完整測(cè)試程序
    - TSP-Link®擴(kuò)展技術(shù)面向多通道并行測(cè)試
    - 軟件仿真基于吉時(shí)利2400源表SMU
    - 大屏幕、易于閱讀、雙行顯示

作為2600B系列源表SMU系列產(chǎn)品的一部分，2602B源表SMU是全新改良版雙通道SMU，具有緊密集成的4象限設(shè)計(jì)，能同步源和測(cè)量電壓/電流以提高研發(fā)到自動(dòng)生產(chǎn)測(cè)試等應(yīng)用的生產(chǎn)率。除保留了2602A的全部產(chǎn)品特點(diǎn)外，2602B還具有6位半分辨率、USB 2.0連接性以及能輕松移植遺留測(cè)試代碼的2400源表SMU軟件指令仿真。2602B配備了吉時(shí)利的高速TSP®技術(shù)（比傳統(tǒng)PC至儀器的通信技術(shù)快200%），這極大提高了系統(tǒng)級(jí)速度，降低了測(cè)試成本。TSP-Link®接口實(shí)現(xiàn)了多通道并行測(cè)試并擴(kuò)展了測(cè)試系統(tǒng)，沒(méi)有主機(jī)開銷。3A直流、10A脈沖和40V輸出的寬量程適于測(cè)試寬范圍的大電流器件、材料、組件和分裝件。

標(biāo)配件
2600-KIT螺釘端子連接器套件
2600B源表CD
2600B快速使用指南
適用于2600B的2400仿真腳本
7709-308A 型DB50公連接器套件（焊杯），帶外殼
CA-180-3A型TSP-Link電纜
KTS-850E02,測(cè)試腳本創(chuàng)建軟件CD套件

SMU系列產(chǎn)品
2601B源表SMU，單通道（100fA、40V、3A直流/10A脈沖）
2611B源表SMU，單通道（100fA、200V、1.5A直流/10A脈沖）
2612B源表SMU，雙通道（100fA、200V、1.5A直流/10A脈沖）
2635B源表SMU，單通道（0.1fA、200V、1.5A直流/10A脈沖）
2636B源表SMU，雙通道（0.1fA、200V、1.5A直流/10A脈沖）
2604B源表SMU，雙通道（100fA、40V、3A直流/10A脈沖），臺(tái)式版本
2614B源表SMU，雙通道（100fA、200V、1.5A直流/10A脈沖），臺(tái)式版本
2634B源表SMU，雙通道（1fA、200V、1.5A直流/10A脈沖），臺(tái)式版本
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2602B源表（3A直流，10A脈沖）