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JESD22環(huán)境可靠性測試標準

日期:2017-04-17瀏覽:22812次

JESD22環(huán)境可靠性測試標準主要功能包括術(shù)語、定義、產(chǎn)品特征描述與操作、測試方法、生產(chǎn)支持功能、產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性、機械外形、固態(tài)存儲器、DRAM、閃存卡及模塊、以及射頻識別(RFID)標簽等的確定與標準化。

標準編號

JESD22-A100C:2007

標準名稱

濕熱循環(huán)偏壓壽命試驗

試驗目的

評估非固態(tài)封裝產(chǎn)品在溫度循環(huán)、高濕、偏壓及結(jié)露環(huán)境下。產(chǎn)品抗腐蝕和耐須晶生長性能。

試驗方法/條件

ramp time 2h~4h;storage 4h~8h;30~65℃,90%~98%RH

嚴酷等級

默認除非特例

時間

1008(-24,+168)h

匹配設備

ESPEC的J系列、LHU系列、SH系列、Walk-in等

設備要求

可編程交替溫濕度變化

 

 

標準編號

JESD22-A102D:2010

標準名稱

高加速蒸煮試驗

試驗目的

這個測試方法主要適用于抗?jié)駸岬慕研詼y試,通過高溫高壓飽和濕氣環(huán)境,引發(fā)分層或金屬化腐蝕等失效。主要針對新封裝材料及結(jié)構(gòu)變化的考量。

試驗方法/條件

121±2℃,100%RH,205KPa

嚴酷等級

Condition A~F

時間

24(0,+2)h;48(0,+2)h;96(0,+5)h;168(0,+5)h;240(0,+8)h;336(0,+8)h

匹配設備

EHS-211、EHS-411

設備要求

高壓蒸煮設備

 

 

標準編號

JESD22-A103D:2010

標準名稱

高溫儲存壽命試驗

試驗目的

高溫存儲測試通常用于確定時間和
溫度對產(chǎn)品的影響。

試驗方法/條件

125(0,+10)℃;150(0,+10)℃;175(0,+10)℃;200(0,+10)℃;250(0,+10)℃;300(0,+10)℃;

嚴酷等級

Condition A~F

時間

Condition B  1000h or specifying in accordance with JESD47

匹配設備

ESPEC的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等

設備要求

試驗過程能穩(wěn)定控溫

 

 

標準編號

JESD22-A104D:2009

標準名稱

溫度循環(huán)

試驗目的

本實驗用來確定組件、互聯(lián)器件對交替溫度極限變化產(chǎn)生的機械應力的耐受性。

試驗方法/條件

-55(+0,-10)/+85(+10,-0);-55(+0,-10)/+125(+15,-0); -65(+0,-10)/+150(+15,-0); -40(+0,-10)/+125(+15,-0); -55(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+115(+15,-0); -0(+0,-10)/+100(+15,-0); -0(+0,-10)/+125(+15,-0);-55(+0,-10)/+110(+15,-0); -40(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+85(+10,-0)       

嚴酷等級

Condition A~N

時間

500~1000h根據(jù)具體條件

匹配設備

TCC、Global-N系列

設備要求

較高的溫變速率

 

 

標準編號

JESD22-A105C:2004

標準名稱

上電和溫度循環(huán)

試驗目的

適用于半導體器件,在交替的高低溫極限中周期的施加卸除偏壓,用于模擬樣件所遭受的zui惡劣環(huán)境

試驗方法/條件

-40(+0,-10)℃~+85(+10,-0)℃ ramp time 20min ,dwell time 10min
-40(+0,-10)℃~+125(+10,-0)℃ ramp time 30min ,dwell time 10min
power on/off 5min

嚴酷等級

Typical condition A~B 

時間

10 minutes at each extreme temperature 

匹配設備

J系列、MC、AR系列、BTZ、Global-N系列

設備要求

具有可編程控制能達到的溫度變化數(shù)率

 

 

標準編號

JESD22-A106B:2004

標準名稱

熱沖擊

試驗目的

這個測試是為了確認樣品暴露于溫度變化的抵抗力和造成的影響。

試驗方法/條件

85(+10/-0)℃/-40(+0/-10)℃;100(+10/-0)℃/0(+0/-10)℃;125(+10/-0)℃/-55(+0/-10)℃;150(+10/-0)℃/-65(+0/-10)℃  TT less than 20s

嚴酷等級

Condition A~D

時間

協(xié)議商定

匹配設備

TSB

設備要求

液體導熱媒介

 

 

標準編號

JESD22-A107B:2004

標準名稱

鹽霧實驗

試驗目的

用來確定固態(tài)器件抵抗鹽霧腐蝕能力

試驗方法/條件

35(+3/-0)℃,沉降30±10克每平方米每24小時,pH 6.0~7.5.  

嚴酷等級

Condition A~D

時間

24h;48h;96h;240h.

匹配設備

板橋理化的SQ系列

設備要求

適合完成中性鹽霧條件的試驗箱

 

 

標準編號

JESD22-A108D:2010

標準名稱

高溫環(huán)境條件下的工作壽命試驗

試驗目的

這個測試用于確定偏差的和溫度對固體器件的影響。短時間一種高溫偏壓的壽命測試,俗稱老化,可能被用來剔除早夭期相關(guān)故障。

試驗方法/條件

125℃/-10℃

嚴酷等級

由測試時間決定

時間

168h;336h;504h或另外商定

匹配設備

ESPEC的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等

設備要求

樣品在通電狀態(tài)下溫箱溫差控制在5攝氏度內(nèi)

 

 

標準編號

JESD22-A110D

標準名稱

高加速壽命試驗

試驗目的

高加速溫濕度應力試驗是為評估非氣密性固態(tài)器件在潮濕及電偏壓的環(huán)境中的可靠性。

試驗方法/條件

130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;apply DC power

嚴酷等級

由所選溫度點決定

時間

96h;264h

匹配設備

EHS-211、EHS-411

設備要求

能夠達到的溫濕度條件,并且具備給試樣施加電偏壓的結(jié)構(gòu)

 

 

標準編號

JESD22-A118A:2011

標準名稱

不上電的高加速濕氣滲透試驗

試驗目的

高加速溫濕度應力試驗是為評估非氣密性固態(tài)設備器件在潮濕的環(huán)境中的可靠性。

試驗方法/條件

130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;

嚴酷等級

由所選溫度點決定

時間

96h;264h

匹配設備

EHS-211、EHS-411

設備要求

能夠達到的溫濕度條件

 

 

標準編號

JESD22-B103B:2002

標準名稱

振動和掃頻試驗

試驗目的

這個測試是評估電氣設備組件。它的目的是確定組件)承受中度到重度的振動運動的結(jié)果    運輸或野外作業(yè)產(chǎn)生的。

試驗方法/條件

正弦掃頻實驗、隨機振動試驗

嚴酷等級

正弦掃頻實驗分8個等級;隨機振動試驗從試驗等級A~I

時間

正弦1decade/min掃過等級的規(guī)定的頻率范圍,4次每個軸,3個軸;隨機每個軸30分鐘,3個軸

匹配設備

DC-3200-36

設備要求

電磁振動臺

 

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